介質(zhì)損失角試驗是高壓電氣試驗中絕緣預防性試驗的主要項目之一，是用于發(fā)現(xiàn)絕緣受潮、絕緣劣化等缺陷方面比較靈敏有效的試驗，在絕緣試驗中占重要位置。

介質(zhì)損失角的測試：
1、介質(zhì)損失角

電介質(zhì)的損耗：絕緣介質(zhì)在交流電壓的作用下，介質(zhì)中流過電流，電介質(zhì)中的部分電能將轉(zhuǎn)變成熱能，這部分能量稱為電介質(zhì)損耗。做介質(zhì)損失測試是對設備絕緣狀況的有效判斷介質(zhì)損耗測試的辦法:測試介質(zhì)的損失角，即介質(zhì)上所做功產(chǎn)生的熱量對介質(zhì)絕緣的影響。

介質(zhì)中形成的電流分兩部分:一部分是電容的無功電流，另部分是引起損耗的有功電流。有功電流又分為三部分電流，分別產(chǎn)生三種損耗:電導損耗:由通過介質(zhì)的電導電流引起的損耗;極化損耗: 極化過程中介質(zhì)的電荷在交變電場下反復排列作周期運動時克服摩擦所形成的吸收電流引起的損耗:游離損耗:氣體中的電暈，液體、固體中的局部放電生成的電流引起的損耗。

當總電流I與電容電流Ic的夾角為6，用6角的正切即I.與I.的比值來表示介質(zhì)損耗，6成為介質(zhì)損失角。通常由于6很小，故有：tan6≈sin6≈6，因此常常把tan6就稱作介質(zhì)損失角。

介質(zhì)損失角的測試電路：采用的設備是西林電橋，即交流高壓電橋。測試設備：介質(zhì)損耗測試儀

如：QSI、QS3電橋或M型介質(zhì)損失器等。

影響電介質(zhì)損耗的幾點因素:

(1) 溫度，電介質(zhì)損耗與溫度的關(guān)系比較復雜，且隨電介質(zhì)材料、結(jié)構(gòu)的不同而不同。

(2) 頻率，當電源頻率為某一數(shù)值時，損耗達到最大，改變電源的頻率，電介質(zhì)的損耗將減少。

3) 電場強度，良好的電介質(zhì)在電場增加時，介質(zhì)損失角幾乎不發(fā)生變化但電場增大到影響介質(zhì)電導電流增加時，則介質(zhì)損失角隨電介質(zhì)電導電流的增加而增加。

測量介質(zhì)損耗的意義:

1)由于介質(zhì)損失本身體現(xiàn)了泄漏電流和有損極化電流的情況。在絕緣受潮和絕緣有損失時，泄漏電流要增加，在絕緣中有大量的氣泡、雜質(zhì)，受潮的情況使極化加劇極化損耗就要增加。這樣，tan6反映了絕緣本身的狀態(tài).

2)介質(zhì)損耗時會引起絕緣內(nèi)部發(fā)熱，溫度升高，這將使泄漏電流加大，有損極化加劇，介質(zhì)損耗增大。介質(zhì)損耗增大會使絕緣內(nèi)部更熱，如此循環(huán)，可能在絕緣弱的地方引起擊穿，tan6反映絕緣由良好狀況向劣化狀況轉(zhuǎn)化的過程。

3)介質(zhì)損耗本身就是導致絕緣老化和損壞的一個因素。

影響介質(zhì)損角測量結(jié)果的因素有以下幾點：

(1) 溫度的影響
溫度對tan6有直接的影響，影響程度隨材料、結(jié)構(gòu)的不同而異，一般情況下，tan6是隨溫度上升而增加，所以現(xiàn)場試驗時，設備的溫度是變化的，將不同溫度測試的tan6結(jié)果記錄下來，換算至20℃時的對應值，為的是便于比較。

(2) 試驗電壓的影響良好絕緣介質(zhì)的tan 8 不隨電壓的升高而明顯增加。如果絕緣內(nèi)部有缺陷，測出的tan6隨電壓的升高而明顯增加。

3) 試品電容的影響

對容量較小的設備，測tan6能有效發(fā)現(xiàn)局部集中性缺陷和整體分布性缺陷。但對容量較大的設備，測tan8只能發(fā)現(xiàn)絕緣的整體分布性缺陷。因為局部集中性的缺陷所引起的損耗增加只占總損耗的極小部分，從而被掩蓋。