試驗電壓

對試驗電壓的要求

電壓波形

除非有關(guān)技術(shù)委員會另有規(guī)定,試品上的試驗電壓應(yīng)是紋波因數(shù)不大于3%的直流電壓。

注：紋波幅值的增加直接與阻性電流的增加有關(guān)。有嚴(yán)重流注放電的絕緣試驗會導(dǎo)致很大的紋波,和/或電壓跌落。濕試驗和污穢試驗要求電源能提供足夠人的阻性電流,參見GB/T22707。

容差

如果試驗持續(xù)時間不超過60s,在整個試驗過程中試驗電壓測量值應(yīng)保持在規(guī)定電壓值的士1%以內(nèi);當(dāng)試驗持續(xù)時間超過60s時,在整個試驗過程中試驗電壓測量值則應(yīng)保持在規(guī)定電壓值的士3%以內(nèi)。

注：必須強調(diào),容差為試驗電壓規(guī)定值與試驗電壓測量值之間允許的差值。它與測量不確定度不同。電源的額定輸出電流應(yīng)使試品電容在適當(dāng)短的時間內(nèi)充電。但當(dāng)試品電容很大時,也允許長達(dá)幾分鐘的充電時間。當(dāng)進(jìn)行濕試驗或污穢試驗時,電源(包括儲能電容)還應(yīng)能提供試品的瞬時放電電流且其電壓降應(yīng)小于10%。

試驗電壓的產(chǎn)生

試驗電壓一般用變壓器整流回路產(chǎn)生。對試驗電源的要求很大程度上取決于試品的類型和試驗條件。這些要求主要由電源所提供的試驗電流的數(shù)值和特性確定。試驗電流的主要組成部分見后續(xù)。

試驗電壓的測量

算術(shù)平均值、紋波因數(shù)和試驗電壓的瞬時壓降應(yīng)使用滿足GB/T16927.2規(guī)定的認(rèn)可測量系統(tǒng)測量。

在測量紋波、瞬態(tài)電壓或電壓穩(wěn)定性時,測量裝置的響應(yīng)特性應(yīng)符合要求。

試驗電流的測量

在測量流過試品的電流時,可以區(qū)分出幾個獨立的分量。對同一個試品和同一試驗電壓,各分量的大小可能差幾個數(shù)量級。

這些分量是:

a)電容電流：由于開始加上試驗電壓或由于試驗電壓上紋波或其他波動所引起。

b)介質(zhì)吸收電流：由于絕緣中發(fā)生緩慢的電荷位移而引起。電流可持續(xù)幾秒至幾小時。該過程局部可逆。當(dāng)試品放電或短路時,可觀察到反極性電流。
c)持續(xù)泄漏電流：當(dāng)a)和b)分量衰減到零后,在恒定電壓下達(dá)到穩(wěn)態(tài)的直流電流。

d)局部放電電流。

測量 a)、b)、c)3個分量時需用量程較寬的儀器。應(yīng)注意保證儀器對某一個電流分量的測量不受其他分量的影響。對于非破壞性試驗,有時可以從觀測電流隨時間的變化規(guī)律中了解絕緣狀態(tài)。

每個電流分量的相對幅值和重要性取決于試品的類型和狀態(tài)、試驗的目的以及試驗的持續(xù)時間。當(dāng)特別需要區(qū)分某一特定分量時,相的測量程序由有關(guān)技術(shù)委員會規(guī)定。

應(yīng)使用校準(zhǔn)過的測量系統(tǒng)進(jìn)行電流測量。

應(yīng)使用GB/T7354局部放電測量標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的專用儀器進(jìn)行局部放電脈沖電流的測量。

注：由于直流電壓試驗中可能出現(xiàn)破壞性放電,其電流遠(yuǎn)大于常規(guī)電流,因此通常應(yīng)在直流電流測量回路中使用電壓保護(hù)裝置。