介質損耗因數(shù)試驗

介質損耗因數(shù)測量和絕緣電阻一樣都屬于絕緣特性試驗。

它和絕緣電阻一起很早以前就被普遍用作判斷產(chǎn)品絕緣狀態(tài)是否良好的重要手段。

當外施電壓為交流電壓時，絕緣中的視在功率UI可分為兩部分組成，有功部分P和無功部分Q，其比值稱為介質損耗因數(shù)。即tan6=P/Q。

試驗儀現(xiàn)在皆采用數(shù)字式交流電橋，測量精度誤差小于1%，變壓器試驗接線試驗順序同絕緣電阻測量，試驗測量環(huán)境要求同絕緣測量。變壓器試驗接線時電橋接線采用反接線，套管試驗采用正接線。施加電壓接下列規(guī)定：

額定電壓在6kV及以下的試品按額定電壓；

額定電壓為10kV以上的誠品按10kV加壓。

當對試品絕緣性能產(chǎn)生懷疑時，可在不同電壓下測量其介質損耗因數(shù)。絕緣良好的試品應隨者電壓的升高介質捐耗不變或是略有升高。

在10-40°C時，介質損耗因數(shù)的測量結果不過下列規(guī)定：

35kV級及以下繞組20°C時不大于2%；

63kV級及以上的繞組20°C時不大于1.5%；

協(xié)議有要求者，按協(xié)議要求值。 當繞組溫與20°C不同時，換算方法按GB6451-1999標準的方法進行試驗時，儀器接地應良好，最好與被試品起接地。加壓線應絕緣良好，并懸起支撐好使引線不影響測量結果。